產(chǎn)品中心
PRODUCTS CENTER當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心表面分析X射線(xiàn)光電子能譜儀
產(chǎn)品分類(lèi)
PRODUCT CLASSIFICATIONPHI 硬X射線(xiàn)光電子能譜儀,下一代透明發(fā)光材料使用直徑約為10nm~50nm 的納米量子點(diǎn)(QDs),結(jié)合使用 XPS(Al Ka X射線(xiàn))和 HAXPES(Cr Ka x射線(xiàn))對(duì)同一微觀(guān)特征區(qū)域進(jìn)行分析,可以對(duì) QDs 進(jìn)行詳細(xì)的深度結(jié)構(gòu)分析。
PHI X射線(xiàn)光電子能譜儀 提供了一種全新的用戶(hù)體驗(yàn),儀器高性能、全自動(dòng)化、簡(jiǎn)單易操作。 操作界面可在同一個(gè)屏幕內(nèi)設(shè)置常規(guī)和高級(jí)的多功能測(cè)試參數(shù),同時(shí)保留諸如進(jìn)樣照片導(dǎo)航和 SXI 二次電子影像精細(xì)定位等功能。
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